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單片機(jī)解密失敗的原因探討

  在單片機(jī)解密過(guò)程中,一般的解密公司都表示不能百分之百保證解密的成功,單片機(jī)解密會(huì)受到多種內(nèi)外因素影響而造成解密的失敗,那么,主要有哪些原因會(huì)造成單片機(jī)解密的失敗呢?
  單片機(jī)解密失敗的原因很多,有人為因素,也有客觀環(huán)境因素的影響等等,下面是集中常見(jiàn)的造成單片機(jī)失敗的原因:
  1.DECAP存在失敗的可能(這種占解密失敗原因的絕大部分):
  A.過(guò)腐蝕,PAD腐蝕壞,外部不能讀出程序
  B.芯片流片工藝不好,DECAP的時(shí)候容易腐蝕PASSVATION表層(鈍化層),使管芯實(shí)效,外部無(wú)法讀出程序
  C.開(kāi)蓋的時(shí)候把PIN腳氧化(酸弄到管腳上了)
  D.無(wú)意中弄斷AL線
  E.單片機(jī)機(jī)使用特殊封裝材料,無(wú)法和酸反應(yīng)
  F.管芯特殊封裝,不在芯片正中位置,極容易開(kāi)壞(下圖是MCU由2個(gè)管芯組成,通常稱為MCM)
  E:芯片封裝的時(shí)候有雜質(zhì),無(wú)法進(jìn)行化學(xué)反應(yīng)。
  2.FIB存在失敗的可能:
  A:芯片流片工藝小,位子沒(méi)有找正確
  B:FIB連線過(guò)長(zhǎng),離子注入失效
  C:離子注入強(qiáng)度沒(méi)有控制好
  D:FIB設(shè)備存在問(wèn)題
  E:某些芯片破解,需要在同一小區(qū)域做多項(xiàng)FIB,或者在同一時(shí)間內(nèi),做多項(xiàng)FIB,那么就容易FIB出現(xiàn)問(wèn)題。
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